透射电镜(TEM)测试_透射电镜测试分析

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透射电镜(TEM)测试主要应用领域:物理学、化学、生物学、材料科学、矿物学、地质、选矿、冶金工程等

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透射电子显微镜(英语:Transmission electron microscope,缩写TEM),简称透射电镜,是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上,电子与样品中的原子碰撞而改变方向,从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度相关,因此可以形成明暗不同的影像。通常,透射电子显微镜的分辨率为0.1~0.2nm,放大倍数为几万~百万倍,用于观察超微结构,即小于0.2微米、光学显微镜下无法看清的结构,又称“亚显微结构”。

材料透射电镜

主要检测对象为金属、矿物、半导体、超导体、无机化合物等固体纳米材料。

检测内容包括:

样品的形貌,晶体结构及元素组成,含质厚衬度像、明场衍射衬像、暗场衍射衬像、晶体条纹像、电子衍射图像、能谱等。

主要应用领域:

物理学、化学、生物学、材料科学、矿物学、地质、选矿、冶金工程等领域

生物电镜

1. 样品包埋:送检后标本需经过四氧化锇后固定、脱水、树脂半浸透、树脂全浸透及树脂包埋后高温聚合;

2. 超薄切:聚合后的组织树脂包埋块须在莱卡EM UC7超薄切片机下定位后,切下50-70nm薄片,随后用铜网捞片;

3. 铅铀染色:制作好的样品铜片经醋酸铀染色10min,后硝酸铅再染色10min,即可阅片;

4. 拍照分析:按照客户拍照目的及拍照要求进行分析。

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